映山红-映山红智慧检测-中国智慧检测行业开启新篇章

原子力显微镜AFM（粗糙度、表面电势、模量分布等）

原子力显微镜AFM（Atomic Force Microscopy）是一种高分辨率表面分析技术，通过探针与样品表面的相互作用力，实现对样品表面形貌、粗糙度、表面电势及模量分布等特性的纳米级检测。AFM能够精确测量表面粗糙度，揭示微观结构的起伏变化；通过表面电势检测，分析材料的电荷分布与电学特性；模量分布则反映了材料的力学性能。该技术广泛应用于材料科学、生物医学、纳米技术等领域，为表面特性研究提供了重要手段